15J測量顯微鏡

用途測量顯微鏡是光學計量儀器之一種，它的結構簡單，操作方便，適用范圍極廣，用途如下： 1．直角坐標中測定長度，例如測定孔距、基面距離、刻線寬度、鍵槽寬度、狹縫寬度、通孔外圓直徑、電線電纜絕緣皮厚度等。

2．轉動度盤測定角度，例如對刻度盤、樣板、量規、鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。

3．用作觀察顯微鏡，以比較法檢查工作表面光潔度，鑒定冶金工業的礦石標本。檢定印刷照相制版，檢驗紡織纖維等等。

主要規格

放大倍數：25X、100X

X軸移動測量范圍：50 mm

Y軸移動測量范圍：13 mm

測微器分度值：0.01mm（15JE數顯：分度值0.001 mm）

測量臺轉動范圍：不限測量臺刻度盤

分度范圍：0°-360°

測量臺刻度盤之分度值：1°

測量臺刻度盤游標讀數示值：6’

測量精度儀器示值誤差：±（5+L/15）μm

儀器示值誤差：包括測量誤差與儀器系統誤差

注：測量地點溫度變化（20±3）℃ L-被測件長度（mm）

儀器主要尺寸

測量臺與物鏡間之*大距離：80mm

測量工作臺直徑：120mm

儀器外形尺寸 262×220×325mm